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电感耦合等离子体质谱地质 ICPMS
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钢研纳克检测技术股份有限公司
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关 键 词:电感耦合等离子体质谱地质
行 业:仪器仪表 分析仪器 元素分析仪器
发布时间:2022-05-08
PlasmaMS 300型电感耦合等离子体质谱仪简称PlasmaMS 300,是钢研纳克检测技术股份有限公司推出的ICP质谱仪,作为一种精密无机元素分析仪器,它具有以下特点:
1.1.1 进样系统
1) 进样系统应外置, 便于操作、更换和清洗;
2) 采用进口雾化器,雾化效率高,不易堵塞;
3) 进样管路的长度尽可能短, 减少了记忆效应。;
4) 仪器配备系列经过优化的进样系统,可用于、高盐/复杂基体样品、含氢氟酸(HF)等样品的测试;
5) 使用质量流量控制器控制冷却气、气和载气的流量,**测试性能长期稳定;
6) 4通道12滚轮进口蠕动泵,提升样品导入稳定性和均匀性。
1.1.2 ICP离子源
1) 自激式固态射频发生器,体积小巧,效率高,功率可通过反馈调节,实现较高的稳定性;
2) 自动匹配速度快,保证了点火成功率;
3) 精准控制的三维移动平台,实现了炬管自动定位及自动校准的功能;
4) 快速插拔式气管连接, 方便拆卸;
5) 快速插拔式气管连接, 方便拆卸。
1.1.3 接口单元
1) 保持样品离子的完整性的同时,限度的让所生成的离子通过;
2) 氧化物和二次离子产率尽可能低;
3) 等离子体的二次放电尽可能小
4) 不易堵塞,产生热量尽可能少;
5) 易于拆卸和维护:锥口拆冼过程中,不影响真空系统,*卸真空;
1.1.4 离子传输系统
1) 连续偏转设计的离子光学系统的消除中子和光子的干扰
2) 优异的六较杆离子镜系统优化了离子传输效率,聚集尽可能多的要测定的离子沿同样方向进入四较杆
3) 带动能歧视效应的碰撞反应池技术,有效消除由样品基体或等离子体源引起的多原子离子干扰;
1.1.5 四较杆质量分析系统
1) *的四较杆电源采用了数字直接频率合成(DDS)技术,能够进行自动频率匹配调谐,使得仪器的自动化程度和安全性能有了进一步提高;
2) 内部无连接线、**部进入的无线缆设计,使装配更为方便,增加仪器的一致性和可靠性;
3) 的四较杆尺寸结合全固态四较杆RF发生器, 带来的分辨率和长期稳定性,具有同时记录所有元素谱线的“摄谱”功能,并能存储和检索;
4) 结合六较杆离子镜系统和的真空系统, 带来的灵敏度;
1.1.6 离子检测和数据采集系统
1) 采用不连续打拿较电子倍增器;
2) 即插即用设计, 没有任何连接线, 方便更换;
3) 软件硬件控制检测器过荷保护
4) 三种数据采集模式,全质量连续扫描; 跳峰扫描;两者结合的扫描。
1.1.7 真空系统
1) 自主开发了的真空采集控制系统,全自动整机真空保护,保证仪器的正常工作;
2) 的缓冲技术,机械泵间断运行,实现了较低的待机功耗;
3) 特的防粉尘、防返油雾设计,有效隔断油气,解决机械泵油气污染问题,确保了仪器的**高真空洁净系统
1.1.8 控制系统
1) 具有包括温度、水流、气压、位置状态功能等,上提供仪器保护,延长使用寿命;
2) 使用CAN总线结构, 其特的编码方式具有的稳定性和抗干扰能力;
3) 利用CAN总线的特优势, 仪器增加的任何功能均为即插即用模式, 非常方便。
1.1.9 软件系统
1) 仪器测试各参数、自动调谐、三维移动平台、透镜电源等参数灵活设置;
2) 全中文的软件界面,符合中国人的思维习惯,参数和方法设置直观快捷;可提供一键式(调谐、测试等)操作的功能;
3) 软件可查看各个部件的实时运行状态以及故障报错,确保仪器的安全运行
PlasmMS 300在生物医药行业的应用
一般说来,生物样品(例如血样)都含有高基体。分析这些类型的样品需要对进样系统和锥 口部分(ft end)进行高频率的维护。根据需要的检测限,通常上机前都需要对这些样品进 行基体匹配和稀释。
生物样品中一些元素的干扰,例如:
ArC 干扰 52Cr
ArAr 干扰 80Se & 78Se ArCl 干扰 75As
ArNa 干扰 63Cu
这些干扰可通过使用 CCT 消除,其能维持高功率,将难电离元素(As 和 Se 等)进行电离, 从而解决高生物基体的问题。
应用领域
体液中的全元素分析,如血液、尿液、血清 生物健康研究利用同位素追踪评估机体功能和身体受污染程度。
PlasmaMS的质谱干扰消除办法
PlasmaMS 300的另一类主要干扰是质谱干扰。
1.多原子干扰(Polyatomic) – 与目标同位素原子质量重合的多原子离子,所带来的干扰
2. 同量异位素干扰(Isobaric) –与目标同位素原子具有相同质量数的原子带来的干扰(目标 原子与干扰原子的质子数和中子数都不同,但(质子数+中子数)相同);也包括质荷比相等 的不同元素离子形成的干扰。
多原子离子: 包括氩化合物、氢化物、氧化物
氩化合物的产率可以通过性能选项来降低:例如使用等离子体屏蔽环(PlasmaScreen)和 碰撞反应池(CCT, Collision Cell Technology)。
这些干扰有时是气体引起的:例如进样时候引入的空气、用来维持等离子体燃烧的氩气。 还有的来自于样品基体中的阴离子或者阳离子。
氧化物的产率可以通过调谐来降低:炬管和雾化器的位置、气体流速对氧化物产率的影响 是的。基体引起的干扰很多都是氧化物,尤其是样品中的主量元素,会在距离主量元 素16个amu的位置产生一个氧化物的干扰峰。这样的干扰普遍存在,并且随着基体氧化 物沸点的升高,这样的干扰更加严重。我们可以使用空白扣减来降低这样的干扰。
同量异位素干扰: 这种干扰指的是,存在着和目标元素原子质量相同的干扰离子。要消除同量异位素干扰, 只能是尽可能选择该元素的其它同位素来回避这样的干扰。
还有一类的同质量干扰,如果干扰元素的二级电离电位(Isobaric interference)低于了 氩原子的一级电离电位(15.8ev),这样的元素原子在ICP中会形成双电荷离子。对于双电 荷离子的干扰,很难消除,但有的时候可以通过调谐来将干扰降低一些。如果可以的话, 通过更换更合适的同位素来解决。
如果用户的目标元素是单同位素元素时,例如As,此时就不能采用更换同位素的办法来 避免干扰。As元素是比较典型的单同位素元素,同时面临着普遍的多原子干扰(40Ar 35Cl),一旦有氯元素的存在,就存在40Ar 35Cl的干扰。
钢研纳克同时也是**的标准物质提供商,都提供标样,很多是以混标的形式包含了用户要求浓度的多种元素,可以方便 地用于 **SMAMS 300 分析。
此外您也可以从钢研纳克购买单标---10,000/1,000 ppm的单标母液。
但是,考虑到各个元素自身的物理化学特性,以及它们在酸中的稳定性,或者它们与溶液 中其他元素的共存稳定性等各种特性,在配置混标的过程中必须格外小心。
当配置自用的复合标准品时,应注意
• 此外高浓度能降低分析元素的损失,如瓶壁吸附
• 不是溶液中所有的元素均需要达到10ppm的线性范围
• 也要小心不要混合产生相互反应的元素否则可能产生沉淀,如在S存在下的Ba。
• 在制备标样或者样品的过程中,请确认您的去离子水系统能够正常工作,一 般**纯水的电阻率应该在18.2 MΩ/cm左右。
• 在此过程中使用的试剂例如酸试剂,也应该是纯度的。
• 移液管(pipettes)或其他类似器具不能直接伸入试剂或母液容器里。
• 确保**SMAMS 300的工作容器都是塑料的(例如PFA, FEP, PTFE, LDPE, HDPE, PMP 或PP),尽量不要用玻璃容器(Pb,Hg等可以用玻璃)。
• 在制备标样或者样品的过程中,尽量减少稀释步骤。
• 应当使用经过校准的微量移液器(例如移液),并且使用一次性塑料头。
• 应当在通风橱里面进行制备,以尽量避免空气流通带来的污染。
• 为了得到的检出限,凡是在制备过程中会与标样或者样品接触的容器和 器具都应当在使用前经过酸液浸泡。