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半导体IC多功能推拉力测试机 推拉力测试机的原理基于力学原理，即力与位移之间的关系。推拉力测试机通过施加推力或拉力于测试样品，并测量该力对样品造成的位移，从而确定样品的强度和耐久性。 推拉力测试机的工作原理主要由以下几部分组成： 1、传动机构：用于生成施加在样品上的推力或拉力。 2、传感器：用于测量样品产生的位移。 3、控制系统：负责设置测试参数，控制测试过程，并记录和分析数据。 4、数据处理系统：负责处理和分析测试数据，以评估样品的强度和性能。 产品优势 1、电脑自动选取合适的推拉刀，*人手更换 2、采用进口传动部件结合*特力学算法，确保机台运行稳定性及测试精度。 3、多功能四轴自动控制运动平台，采用进口传动部件，确保机台的高速、长久稳定运行。 4、旋转盘内置三个不同量程测试传感器，满足不同测试需求，避免因人员误操作带来的设备损坏。 5、优异的可操控性，左右双摇杆控制器，可自由摆放手感舒适，操作简单便捷。 6、 强大分析软件进行统计、破断分析、QC报表，测试数据实时保存与导出，方便快捷。 7、机载统计数据按照等级，平均值，标准差和CPK分布曲线显示测试结果。 8、弧线形设计便于调整显微镜支架。 9、显微镜光源为双光纤LED，冷光源，不发热，可随意弯曲。 10、XY平台，可以根据要求定制，满足更广泛的测试范围。 11、图像采集系统，快速简单的设置，安装在靠近测试头位置，以便帮助更快地测试。提高测试自动化速度。 半导体IC多功能推拉力测试机 设备型号：LB-8600 外形尺寸：660mm*610mm*800mm（含左右操作手柄） 设备重量：约 95KG 电源供应：110V/220V@3.0A 50/60HZ 气压供应：4.5-6Bar 控制电脑：联想/惠普原装PC 电脑系统：Windows7/Windowsl0 正版系统 显微镜：标配高清连续变倍显微镜（可选配三目显微镜+高清CCD相机） 传感器更换方式：自动更换（在软件选择测试项目后，相应传感器自动至测试工位） 平台治具：360度旋转，平台可共用各种测试治具 XY轴丝杆有效行程：100mm*100mm 配真空平台可拓展至200mm*200mm，大测试力100KG XY轴大移动速度：采用霍尔摇杆对XY轴自由控制，大移动速度为6mm/S XY轴丝杆精度：重复精度±5um 分辨率≤0.125 ： 2mm以内精度±2um Z轴丝杆有效行程：100mm 分辨率≤0.125um,大测试力20KG Z轴大移动速度：采用霍尔摇杆对Z轴自由控制，大移动速度为8mm/S Z轴丝杆精度：±2um 剪切精度2mm以内精度±lum 传感器精度：传感器精度土0.003%：综合测试精度土0.25% 设备治具：根据样品或图纸按产品设计治具（出厂标配一套） 设备校正：设备出厂标配相应校正治具及砝码一套 质量保证：设备整机质保2年，软件身免费升级（人为损坏不含） 推拉力测试机是一种重要的测试设备，用于评估半导体芯片的机械强度和可靠性。它具有高效、准确、可靠、自动化和多功能等优点，可以满足现代电子产品对半导体芯片可靠性测试的需求。