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苏州xrf合金分析仪供应 edx1800b
价格：85000.00起
苏州实谱仪器有限公司
联系人：孙经理
电话：18860927557
地址：江苏省苏州高新区紫金路85号3号楼3楼
ROHS测试仪器产品资料介绍，rohs测试仪器技术参数和配置请咨询苏州实谱信息科技有限公司提供的rohs测试仪edx1800bs是应对欧盟环保rohs指令的有害物质快速测试仪，适合工厂使用，快速，操作简便！高可靠稳定性高压电源和X光管，提高了产品的可靠性。智能的安全防护措施新进、准确的分析软件和分析方法。多元的线性回归方法，消除和降低元素间的吸收、增强效应。高分辨率，高计数率，提高工作效率。
特的激发X光源
激光X光源、样品激发装置和探测系统，大大提高仪器元素的检测灵敏度，降低检出限。
性能、微量X荧光检出
采用特的光路设计和双引擎设计，并结合使用多组滤片和多组光管激发材的切换，大大地降低了仪器的信噪比，使该仪器在X荧光设备中具有的元素检出限。
大器稳重、准确无损
ROHS检测仪技术原理
RoHS检测仪目前市场上常见的类型是X射线荧光分析仪，又分为能量色散型和波长色散型，能量色散型因其技术原理及结构比波长色散型简单，现市场上比较常见，其技术原理：
特征X射线
同位素源或X射线发生器放出的X射线或Γ射线与样品中元素的原子相互作用，逐出原子内层电子。当外层电子补充内层电子时，会放射该原子所固有能量的X射线-特征X射线。
元素含量与特征X射线强度的关系
不同元素特征X射线能量各不相同，依此进行定性分析；再根据特征X射线强度大小，可进行定量分析。
可用函数关系式表示为：C=f(k1I1, k2I2, k3I3...)
ROHS检测仪分辨率从低到高探测器是NaI晶体闪烁计数器，充气比例计数器（He，Ne，Ar，Kr，Xe等），HgI2晶体探测器，半导体冷却Si PIN探测器，高纯硅晶体探测器，高纯锗晶体探测器，电冷或液氮冷却Si（Li）锂漂移。硅晶体探测器，Ge（Li）锂漂移锗探测器等
目前常用的有电冷或液氮冷却Si（Li）锂漂移硅晶体探测器，Si PIN探测器，高纯硅晶体探测器。探测器的性能主要体现在荧光检测的检测限，分辨率和能量范围。因此，如果您希望仪器的检测限良好，您必须了解。 低分辨率探测器的探测元件效果较差，难以探测被测物质中的微量元素。分辨率一般为700-1100eV。通常，可以用来测没有干扰的含量比较高的元素。
分析原理：
ROHS检测仪就是X射线荧光光谱仪，其分析原理也就是X射线荧光光谱仪的分析原理。波长色散X射线荧光光谱仪使用分析晶体分辨待测元素的分析谱线，根据Bragg定律，通过测定角度，即可获得待测元素的谱线波长：
nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）
式中 ，λ为分析谱线波长；d为晶体的晶格间距；θ为衍射角；n为衍射级次。利用测角仪可以测得分析谱线的衍射角，利用上式可以计算相应被分析元素的波长，从而获得待测元素的特息。
能量色散射线荧光光谱仪则采用能量探测器，通过测定由探测器收集到的电荷量，直接获得被测元素发出的特征射线能量：
Q=KE
式中，K为入射射线的光子能量；Q为探测器产生的相应电荷量；K为不同类型能量探测器的响应参数。电荷量与入射射线能量成正比，故通过测定电荷量可得到待测元素的特息。
待测元素的特征谱线需要采用一定的激发源才能获得。目前常规采用的激发源主要有射线光管和同位素激发源等。
为获得样品的定性和定量信息，除光谱仪外，还必须采用一定的样品制备技术，并对获得的强度进行相关的谱分析和数据处理。
采购ROHS检测仪器时需要注意以下方面：
1.技术参数：一般都可要求拿样品到仪器厂家进行测试，进一步后可以试机，在试机过程中发现是否存在问题，一般情况下，通过试机测机对比就可发现那种比较好，同时有实力的公司一般都可按照厂家要求进行灵活改动，满足厂家要求，例如非标标样制作，报表更改，样品分析一类。
2.技术培训，该类产品在销售时，进行培训的时间不得少于两天，一般有实力的厂家都会按照此要求进行培训。如果不及时培训，一方面不能有效利用仪器功能，另一方面会因操作人员操作不熟练，导致仪器寿命缩短，比如某公司购买日本精工仪器刚刚两年，探测器和光管全部损坏，售后成本高达10多万，不得不购买新的国产仪器以做替代
3.售后服务，这类产品不同于其他仪器，售后往往很是重要，一方面是荧光管有其寿命问题，选择元器件损坏时维修费用低的一方是明智之举；另一方面也是ROHS领域进展比较快，需要卖方进行售后技术支持。很多仪器在售后方面大赚黑心钱，原因很简单，因为基本上每台仪器与探测器和光管的配套设施不一样，导致只能从原厂购买，故很多公司在免费维修期过后，高价销售零部件，如购买，提前询问。
4.XRF自身问题，该类仪器因为属于物理测量，测量结果准确度受到限制，一般情况下，不如化学测量法测试准确，故此类仪器精度可以非常高，
