光学和无线电模块化系统。

可以对通常难以测触的特征进行检测。

与雷尼绍现有的光学兼容。

提供优异的抗光干扰能力。

雷尼绍的模块化系统使测头能够测触用于测量或工件找正的特征，这些特征使用标准测头可能无法触及。雷尼绍拥有全系列转接头、加长杆和测针配置，能够满足要求严苛的测头测量应用。

OMP40M和OMP60M光学模块化系统

OMP40M和OMP60M能够检测使用标准测头无法触及的工件特征。它们均可加装转接头、加长杆及雷尼绍的LP2测头。

这些模块化系统与现有雷尼绍光学兼容，因此用户可升级现有装置。当该系统与新的调制传输接口一起使用时，它们具有优异的抗光干扰能力。

特性与优点

• 成熟的运动机构设计。
• 采用调制传输功能，具有优异的抗光干扰能力。
• 360°传输范围。
• 全系列转接头和加长杆允许测触更多工件特征
• 1 μm至2 μm 2σ重复性（取决于测头）。

RMP40M和RMP60M无线电模块化系统

RMP40M和RMP60M模块化系统使测头能够检测可能无法测触的工件特征，并与无线电跳频 (FHSS) 通信结合。FHSS非常适用于工件检测测头与接口不能长时间保持在可视位置的多轴铣床。

模块化系统